用戶注冊(cè) | 登錄 | 幫助中心 | 加入收藏
無(wú)損檢測(cè)
環(huán)境檢測(cè)
電子電工
生化分析
注冊(cè) / 登錄 購(gòu)物車(0) 對(duì)比框(0)
所有分類>>
子類列表: 激光測(cè)距儀 分析天平 水分測(cè)定儀 測(cè)距望遠(yuǎn)鏡 GPS手持機(jī) 光澤度儀 探傷儀 轉(zhuǎn)速表 頻閃儀 紅外測(cè)溫儀
選擇品牌: 熙浩 美國(guó)磁通
MP-A2D韓國(guó)Kyungdo(京都)電池操作磁粉探傷儀 MP-A2D韓國(guó)Kyungdo(京都)電池操作磁粉探傷儀的極腳為雙活動(dòng)關(guān)節(jié),可與任何形狀的工件良好接觸。
MP-A2L韓國(guó)Kyungdo(京都)磁粉探傷儀 MP-A2L韓國(guó)Kyungdo(京都)磁粉探傷儀磁矩是84-176nm,并配有照明燈,因此有利于黑暗處使用。
B100S美國(guó)派克磁軛探傷儀 B100S美國(guó)派克磁粉探傷儀交流磁場(chǎng),能快速檢測(cè)材料缺陷。
美國(guó)派克B310PDC磁軛探傷儀 美國(guó)派克B310PDC磁軛探傷儀體積小,重量輕,磁場(chǎng)間距是0-230mm。
B300S美國(guó)派克磁軛探傷儀 美國(guó)派克B300S磁軛探傷儀交流磁場(chǎng),磁矩0-305mm
Y-1交流磁軛/磁粉探傷儀 Y-1磁粉探傷儀用于擔(dān)任便攜式鐵磁工件的磁粉探傷,尤其是和焊縫和其他現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。
leeb522超聲波探傷儀 leeb522超聲波探傷儀能夠快速、便攜、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。
里博leeb521超聲波探傷儀 leeb521超聲波探傷儀能夠快速、便攜、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。
leeb520超聲波探傷儀 leeb520超聲波探傷儀既用于實(shí)驗(yàn)室,也用于工程現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。
美國(guó)B310S磁粉探傷儀 美國(guó)B310S磁粉探傷儀采用交流磁場(chǎng),快速準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)材料中的缺陷。
美國(guó)派克 DA400S磁粉探傷儀 美國(guó)派克DA400S采用交直流供電磁場(chǎng),用于表面和近表面缺陷的檢測(cè)。
Copyright 2025 Shxihao.Com. All Rights Reserved.版權(quán)所有:上海熙浩實(shí)業(yè)有限公司 客戶服務(wù)熱線:400-892-6117 (24小時(shí)) 021-31268583 021-57631797 傳真:021-57631797 客戶服務(wù)郵箱:libo@xihao-mro.com 滬ICP備11017316號(hào)-1